上海洪富儀器儀表有限公司
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利用超聲相控陣檢測鈦鑄件
日期：2024-12-20 03:35
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摘要：
利用超聲相控陣檢測鈦鑄件
應(yīng)用情況：某些飛機結(jié)構(gòu)部件，如發(fā)動機懸置構(gòu)架，現(xiàn)在都是采用鈦鑄件制造，因為這種材料都是大晶粒結(jié)構(gòu)，所以，金策起來非常困難。常用的檢測方法是X射線和超聲波，但X射線和超聲波也具有一些限制。超聲相控陣的應(yīng)用對鑄件的檢測帶來了突破，比傳統(tǒng)方法的可探測性更好。
典型的檢測要求：
查找缺陷并定性
完全覆蓋鑄造部件
設(shè)計靈活，足以適應(yīng)各種不同形狀
便攜式設(shè)計，可在維修或者生產(chǎn)過程中進(jìn)行檢測
可檢測的缺陷：
在1in深度范圍內(nèi)小至0.031in的陶瓷外殼
在1in深度范圍內(nèi)小至0.031in的碳化鎢
方案說明：
相控陣探頭聲速轉(zhuǎn)向從-30度~30度縱波
頂部和側(cè)面視圖融合
10和5MHZ的線性相控陣探頭
檢測系統(tǒng)說明：
聚焦32:32或以上
動態(tài)深度聚焦選項
線性相控陣探頭
手動或自動的X-Y掃查器
可檢測部件：
發(fā)動機懸置構(gòu)架
框架
厚度：1至6in
檢測方法：
相控陣探頭可持續(xù)控制從-30度~30度之間的縱波聲速轉(zhuǎn)向，角度分辨率達(dá)到1度，可以檢測各向缺陷。動態(tài)深度聚焦使聲速聚焦到整個深度范圍內(nèi)，該探頭可掃描X-Y表面，并可將數(shù)據(jù)整合起來形成鑄件的側(cè)視和頂視圖，進(jìn)而進(jìn)行相關(guān)分析。
技術(shù)優(yōu)勢：
比X射線具有更好的探測能力
多功能性
檢測速度快。使用簡單
應(yīng)用情況：某些飛機結(jié)構(gòu)部件，如發(fā)動機懸置構(gòu)架，現(xiàn)在都是采用鈦鑄件制造，因為這種材料都是大晶粒結(jié)構(gòu)，所以，金策起來非常困難。常用的檢測方法是X射線和超聲波，但X射線和超聲波也具有一些限制。超聲相控陣的應(yīng)用對鑄件的檢測帶來了突破，比傳統(tǒng)方法的可探測性更好。
典型的檢測要求：
查找缺陷并定性
完全覆蓋鑄造部件
設(shè)計靈活，足以適應(yīng)各種不同形狀
便攜式設(shè)計，可在維修或者生產(chǎn)過程中進(jìn)行檢測
可檢測的缺陷：
在1in深度范圍內(nèi)小至0.031in的陶瓷外殼
在1in深度范圍內(nèi)小至0.031in的碳化鎢
方案說明：
相控陣探頭聲速轉(zhuǎn)向從-30度~30度縱波
頂部和側(cè)面視圖融合
10和5MHZ的線性相控陣探頭
檢測系統(tǒng)說明：
聚焦32:32或以上
動態(tài)深度聚焦選項
線性相控陣探頭
手動或自動的X-Y掃查器
可檢測部件：
發(fā)動機懸置構(gòu)架
框架
厚度：1至6in
檢測方法：
相控陣探頭可持續(xù)控制從-30度~30度之間的縱波聲速轉(zhuǎn)向，角度分辨率達(dá)到1度，可以檢測各向缺陷。動態(tài)深度聚焦使聲速聚焦到整個深度范圍內(nèi)，該探頭可掃描X-Y表面，并可將數(shù)據(jù)整合起來形成鑄件的側(cè)視和頂視圖，進(jìn)而進(jìn)行相關(guān)分析。
技術(shù)優(yōu)勢：
比X射線具有更好的探測能力
多功能性
檢測速度快。使用簡單
